一、三綜合恒溫恒濕測試振動臺滿足標準：

1. GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第 2 部分：試驗方法 試驗 B：高溫

2. GJB150.3A－2009               高溫試驗方法

3. GJB150.4A－2009                低溫試驗方法

4.GJB150.9A-2009                  濕熱試驗方法

5.G/BT 2423.4-2008/IEC6008-2-30:2005 試驗 Db:交變濕熱方法

6.GB/T5170.18-2005 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗設備

7.GB/T10586-2006 濕熱試驗箱技術條件

二、技術參數：

1. GJB150.4A－2009                低溫試驗方法

2. GB2423.22-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第 2 部分 試驗方法 試驗 Nb：規(guī)定溫度變化速率的溫度變化

3.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件

4.GB/T2423.3-2008(IEC68-2-3)     試驗 Ca:恒定濕熱試驗方法

5.GJB150.9A-2009                  濕熱試驗方法

6.G/BT 2423.4-2008/IEC6008-2-30:2005 試驗 Db:交變濕熱方法

7.GB/T5170.18-2005 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗設備

三、三綜合恒溫恒濕測試振動臺簡介：

適用于電工電子產品、儀器儀表、材料等進行高溫試驗、低溫試驗、濕度、振動試驗等綜合性試驗，以便對試品在給定環(huán)境條件下的行為性能作出評價。